Монокристаллические алмазные зонды для атомно-силовой микроскопиистатья

Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК

Работа с статьей


[1] Монокристаллические алмазные зонды для атомно-силовой микроскопии / Ф. Т. Туякова, Е. А. Образцова, Д. В. Клинов, Р. Р. Исмагилов // Письма в "Журнал технической физики". — 2014. — Т. 40, № 13. — С. 27–35. Представлены результаты по созданию и тестированию прочных, химически инертных и высокоострых монокристаллических алмазных зондов для атомно- силовой микроскопии. Зонды изготавливались на основе алмазных пирами- дальных монокристаллов, полученных с помощью селективного окисления поликристаллических пленок, выращенных методом газофазного осаждения. Разработана методика закрепления одиночных игл на балках кремниевых зондов. С помощью просвечивающего электронного микроскопа установлено, что угол при вершине алмазных пирамидальных кристаллитов составляет порядка 10◦, радиус закругления вершины алмазного кристаллита — 2−10 нм. На примере двух тестовых образцов (поверхности графита и молекул ДНК) показано, что изготовленные алмазные зонды могут эффективно использоваться в атомно-силовой микроскопии и позволяют улучшить качество изображений по сравнению со стандартными кремниевыми зондами.

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть