ИСТИНА

Целями работы являлись: развитие теории рентгеновской резонансной рефлектометрии и анализ вблизи краев поглощения спектральных зависимостей отражения, дифракции и выхода вторичного излучения при скользящих углах падения поляризованного рентгеновского излучения. Теория рентгеновской рефлектометрии для анизотропных мультислоев развита в кинематическом приближении. Общее решение для матриц отражения получено с использованием планарных тензоров импеданса и нормальной рефракции. Дано объяснение искажений спектров TEY XANES при скользящих углах падающего излучения с учетом дополнительного спектрального вклада в суммарную зависимость выхода электронов, обусловленного модуляцией выхода фотоэлектронов от нерезонансных атомов стоячей рентгеновской волной. Разработан пакет программ, позволяющий обрабатывать экспериментальные данные, получаемые в условиях отражения от многослойных структур по полному выходу электронов. Исследована зависимость положения дифракционного максимума в резко-асимметричной схеме эксперимента от энергии фотонов, варьирующейся вблизи краев поглощения атомов в кристалле, и показано, что малые магнитные добавки к показателю преломления могут быть определены по сдвигам дифракционного максимума в этой геометрии даже для жесткого рентгеновского излучения. По теме диссертации опубликовано 3 статьи в рецензируемых журналах, работа прошла апробацию на нескольких международных и российских научных конференциях. Область применения результатов диссертации – рентгеновская оптика синхротронного излучения, рентгеновская спектроскопия вблизи краев поглощения.