Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Современные методы анализа поверхности, тонких пленок и низкоразмерных структур
учебный курс
Авторы:
Борзенко А.Г.
,
Алов Н.В.
Год создания:
2016
Организация:
МГУ имени М.В. Ломоносова
Описание:
Новая переработанная редакция курса "Современные методы анализа поверхности, тонких пленок и низкоразмерных структур" 108 часов
Добавил в систему:
Борзенко Андрей Геннадьевич