Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Статистическое исследование интенсивности пика молекулярного иона в масс-спектрах электронной ионизации
доклад на конференции
Авторы:
Ревельский И.А.
,
Самохин А.С.
Всероссийская с международным участием Конференция :
Пятый съезд ВМСО, IV Всероссийская конференция с международным участием «Масс-спектрометрия и ее прикладные проблемы»
Даты проведения конференции:
2011
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
Самохин А.С.
не указан
Ревельский И.А.
Самохин А.С.
Место проведения:
Москва, Russia
Добавил в систему:
Самохин Андрей Сергеевич