|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Усовершенствованный метод визуализации 3Dтопографии микроструктур в сканирующей электронной микроскопиидоклад на конференции
- Авторы: Зайцев С.В., Караулов В.Ю., Рау Э.И.
- Всероссийская Конференция : XXVIII Российская конференция по электронной микроскопии "Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарных методов исследований наноструктур и наноматериалов"
- Даты проведения конференции: 7-10 сентября 2020
- Дата доклада: 4 сентября 2020
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Черноголовка, Russia
-
Аннотация доклада:
Предложен усовершенствованный метод трехмерной (3D) реконструкции и визуализации поверхностного рельефа микроструктур в сканирующей электронной микроскопии (СЭМ). Новая детекторная система отраженных электронов (ОЭ) повышает в разы градиентную чувствительность, контраст и отношение сигнала к шуму.
- Добавил в систему: Зайцев Сергей Владимирович