|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Characterization of nanocrystals in porous germanium layer by X-ray diffraction. доклад на конференции
- Авторы: Lomov A.A., Караванский В.А., Бушуев В.А.
- Конференция : Int. Conf. “Micro- and nanoelectronics-2003”, Abstracts. October 6th-10th, 2003. Moscow-Zelenograd, Russia. P1-23.
- Даты проведения конференции: 2003
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Moscow-Zelenograd, Russia, Russia
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич