|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Характеризация микронных пористых слоёв кремния по данным рентгеновской дифрактометриидоклад на конференции
- Авторы: Карцев А.А., Ломов А.А., Васильев А.Л., Караванский В.А., Бушуев В.А.
- Конференция : Материалы II Международной научной школы-семинара ”Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии” (Великий Новгород, 1-5 сентября 2008 г.), С. 103-106.
- Даты проведения конференции: 2008
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Великий Новгород, Россия, Russia
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич