ИСТИНА

В докладе подробно описаны особенности изображений графита с атомным разрешением, полученных с помощью сканирующего туннельного микроскопа. В их числе - гигантская гофрировка, неэквивалентность изображений соседних атомов углерода в кристаллической решетке (асиметрия), фриделевские осцилляции вблизи дефектов, структура межзеренных границ. Приведены примеры литографии на поверхности методом локального анодного окисления с помощью атомно-силового микроскопа ФемтоСкан. Продемонстрировано образование непроводящих дорожек оксида графита нанометровой ширины.