|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Drop-microprobe identification of microinclusions in surface layers of semiconductor supports for SBISдоклад на конференции
- Авторы: Kletskina E.V., Guimelfarb F.A., Borzenko A.G., Alimova A.N.
- Всероссийская Конференция : Microelectronics’94
- Даты проведения конференции: 1-4 декабря 1994
- Дата доклада: 1 декабря 1994
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Kletskina E.V.
- Место проведения: Звенигород, Russia
- Добавил в систему: Проскурнина Елена Васильевна