|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
An improved detection of the locally doped semiconductor regions with the scanning electron microscopeдоклад на конференции
- Авторы: Orlikovsky N.A., Vasyuk I.P., Tagachenkov A.M., Rau E.I.
- Международная Конференция : International Conference “Micro- and Nanoelectronics -2012”, ICMNE-2012
- Даты проведения конференции: 2012
- Дата доклада: 10 сентября 2012
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Rau E.I.
- Место проведения: Москва, Эвенигород, Russia
- Добавил в систему: Рау Эдуард Иванович