ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных |
||
Рассмотрена возможность идентификации систем нанокластерных образований со звездной геометрией на основе оценки скейлинговых параметров как в картинах дифракции зондирующего излучения, так и в самих анализируемых объектах.