ИСТИНА

• Охват: Международная
• Даты проведения: 7-12 сентября 2014
• Место проведения: Prague, Czech Republic
• Организаторы:
  EUROPEAN MICROSCOPY SOCIETY (EMS)
  Czechoslovak Microscopy Society
• Число участников: 4
• Число докладчиков: 1
• Веб-сайт: http://www.imc2014.com/
• Описание конференции:

  18 International Microscopy Congress (IMC) in the year 2014.

• Добавил в систему: Евстафьева Екатерина Николаевна

Доклады:

• 2014 New possibilities of SEM for two-channel detection of energetically filtered secondary and backscattered electrons. (Стендовый)
• Авторы: Rau E.I., Zaitsev S.V., Tatarintsev A.A., Kupreenko S.U.

• 2014 Denermination of the second critical energy of primary electrons in relation to dielectric thickness and angle of incidence. (Устный)
• Авторы: Rau E.I., Tatarintsev A.A., Evstaf'eva E.N.