Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
International School-Conference "Physical problems in material science of semiconductors”
Конференция
Охват:
Международная
Даты проведения:
1995
Место проведения:
Chernivtsi
Добавил в систему:
Шаталова Татьяна Борисовна
Доклады:
1995
The comparison of different techniques of layer-by-layer analysis for germanium in PbTe diffusion investigations
Авторы:
Шаталова Т.Б.
,
Яшина Л.В.
,
Козловский В.Ф.
,
Bobruiko V.B.